FE-SEM (1) 썸네일형 리스트형 3. 전자 현미경 1편. 주사 전자 현미경(Scanning Electron Microscope) 광(빛)을 광원으로 이용하는 광학 현미경과는 다르게 전자를 광원으로 사용하는 전자현미경은 빛(가시광선 : 200 ~ 750 nm) 대신 파장이 더욱 짧은 전자(0.6nm)를 광원으로 이용하기 때문에 광학 현미경에 비해 훨씬 더 고분해능을 가지며 이를 통해 물체 물체(샘플)의 표면의 형상이나 크기 등을 더욱 더 잘 관찰할 수 있게 해주는 도구이다. 전자 현미경은 전자의 사용 방법에 따라 주사 전자현미경(SEM, Scanning Electron Micro scope)와 투과전자 현미경(TEM, Transmission Electron Micro Scope)으로 구분된다. 전자 현미경은 전자총을 이용하여 시료에 전자를 주사, 전자빔과 시료간의 상호작용(시편 원자의 k-궤도에서 전자와의 비탄성 충돌로 인해 2차전.. 이전 1 다음
